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本发明公开了一种具有自动矫正结构的芯片测试装置，属于芯片测试技术领域，包括底座以及固定在底座上表面的安装架，所述安装架上安装有两条传送带，两条所述传送带上沿长度方向设置有多个送料机构，所述底座上安装有L字形的第一支架和第二支架，所述第一支架...
该专利属于江苏优众微纳半导体科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过江苏优众微纳半导体科技有限公司授权不得商用。

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