温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
公开了一种闪存的制作方法,包括:提供一衬底,衬底包括第一区域和第二区域,第一区域用于集成闪存单元器件,第二区域用于集成逻辑器件,衬底上形成有氧化层,第一区域的氧化层上形成有字线多晶硅,字线多晶硅两侧的氧化层上形成有第一多晶硅层,第一多晶硅层...该专利属于华虹半导体(无锡)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过华虹半导体(无锡)有限公司授权不得商用。
温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
公开了一种闪存的制作方法,包括:提供一衬底,衬底包括第一区域和第二区域,第一区域用于集成闪存单元器件,第二区域用于集成逻辑器件,衬底上形成有氧化层,第一区域的氧化层上形成有字线多晶硅,字线多晶硅两侧的氧化层上形成有第一多晶硅层,第一多晶硅层...