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本技术涉及内存条测试领域，尤其涉及一种基于红外加热的内存条恒温测试装置。所述基于红外加热的内存条恒温测试装置包括测试主板、隔热罩、底壳、风扇、测试座、加热组件和内存条，测试主板顶部设有底壳，底壳内部安装有若干测试座，且测试座底部与测试主板固...
该专利属于深圳市章江科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市章江科技有限公司授权不得商用。

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