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本发明公开了一种探针卡的探针装配接口布局设计，涉及半导体集成电路技术领域，包括以探针卡基板上的芯片探针测试位及窗口为中心，向远离所述区域方向分级布设植针装配接口，包括：数字信号、模拟信号、电源信号和参考地信号等待测信号焊盘，并且将外围测试电...
该专利属于西安紫光国芯半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过西安紫光国芯半导体有限公司授权不得商用。

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