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本申请公开了一种用于集成电路的验证装置与方法，该方法包括：S1：获取项目文件，基于项目文件获取验证信息与原始数据库文件；S2：基于验证信息与原始数据库文件之间的映射关系，确定验证数据库，其中，验证数据库至少满足验证信息所对应的验证需求，并且...
该专利属于合肥市山海半导体技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥市山海半导体技术有限公司授权不得商用。

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