用于集成电路的验证装置与方法制造方法及图纸

技术编号:41358770 阅读:27 留言:0更新日期:2024-05-20 10:09
本申请公开了一种用于集成电路的验证装置与方法,该方法包括:S1:获取项目文件,基于项目文件获取验证信息与原始数据库文件;S2:基于验证信息与原始数据库文件之间的映射关系,确定验证数据库,其中,验证数据库至少满足验证信息所对应的验证需求,并且验证数据库包括验证指令集、验证传输数据集以及验证任务模版集;S3:基于验证信息生成验证平台,并且基于验证数据库生成测试激励,其中,验证平台涉及接口类型、传输位宽、仿真单位和精度、数据类型等信息;以及S4:基于验证平台与测试激励,自动匹配生成测试用例。通过调用任务模版来构造不同的组合快速实现目标测试用例,节约了不同项目在编写测试用例时所耗费的时间成本,提高了效率。

【技术实现步骤摘要】

本申请属于集成电路设计领域,特别涉及一种用于集成电路的验证装置与方法


技术介绍

1、随着近年来芯片集成度的提高以及集成电路尺寸的不断增加,为应对各种复杂的情况,集成电路的仿真速度越来越慢,仿真时间也越来越长,由此在验证方面所耗费的时间成本不断提高。在这种环境背景下,如何缩短验证周期,降低芯片验证所耗费的时间成本逐渐成为设计过程中需要重点考虑的因素之一。

2、对于芯片接口的验证,传统接口仿真的方法是基于数据总线与验证平台之间的一一对应关系实现的,即从总线输入特定激励信号一直验证到验证平台产生对应的输出来实现,从而验证逻辑功能和时序信号的无误性。然而,该种方式每次都需要重新产生激励,接口仿真的覆盖度较低具有唯一性,无法在不同的项目中重复使用,接口仿真的规范化程度较低。

3、针对上述问题,本申请提出自动遍历生成激励的接口验证平台构建方法及电子设备。


技术实现思路

1、为了解决所述现有技术的不足,本申请提供了自动遍历生成激励的接口验证平台构建方法,以解决现有技术的接口仿真存在的仿真覆盖度较低本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于集成电路的验证方法,其特征在于,所述方法包括:

2.如权利要求1所述的验证方法,其特征在于,所述验证信息包括传输特征信息,其中,所述传输特征信息包括以下至少一种信息:接口类型、数据传输位宽以及指令操作位宽。

3.如权利要求2所述的验证方法,其特征在于,还包括:

4.如权利要求3所述的验证方法,其特征在于,

5.如权利要求4所述的验证方法,其特征在于,还包括:

6.如权利要求2所述的验证方法,其特征在于,所述步骤S2还包括:

7.如权利要求6所述的验证方法,其特征在于,所述方法还包括:</p>

8.如权...

【技术特征摘要】

1.一种用于集成电路的验证方法,其特征在于,所述方法包括:

2.如权利要求1所述的验证方法,其特征在于,所述验证信息包括传输特征信息,其中,所述传输特征信息包括以下至少一种信息:接口类型、数据传输位宽以及指令操作位宽。

3.如权利要求2所述的验证方法,其特征在于,还包括:

4.如权利要求3所述的验证方法,其特征在于,

5.如权利要求4所述的验证方法,其特征在于,还包括:

6.如权利要求2所述的验证方法,其特征在于,所述步骤s2还包括:

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【专利技术属性】
技术研发人员:周勇李明
申请(专利权)人:合肥市山海半导体技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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