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本发明的实施方式提供了一种用于集成电路的失效样本再采样方法、装置和计算设备。该方法包括：确定集成电路中预设的工艺偏差变量的概率密度函数；确定压扩因子总集合；其中，所述压扩因子总集合中包含多个压扩因子，且任意两个压扩因子均不相同；根据所述概率...
该专利属于上海超捷芯软科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海超捷芯软科技有限公司授权不得商用。

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