温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本申请涉及一种半导体芯片测控装置，应用于量子计算技术领域，该装置包括界面模块，用于在接收到实验选择指令时，显示与所述实验选择指令对应的实验界面并发送对应的实验信息，以及显示与所述实验信息对应的实验结果；控制模块，用于根据接收到的所述实验信息...
该专利属于本源量子计算科技（合肥）股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过本源量子计算科技（合肥）股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。