半导体芯片测控装置、方法及量子计算机制造方法及图纸

本申请涉及一种半导体芯片测控装置，应用于量子计算技术领域，该装置包括界面模块，用于在接收到实验选择指令时，显示与所述实验选择指令对应的实验界面并发送对应的实验信息，以及显示与所述实验信息对应的实验结果；控制模块，用于根据接收到的所述实验信息确定实验参数，并根据所述实验参数输出对应的控制指令，以及处理实验数据获得实验结果；仪器模块，用于根据所述控制指令控制半导体芯片进行实验，获取实验数据，并将实验数据发送至所述控制模块。本申请通过用户端界面对实验数据进行显示，无需用户依次对仪器进行控制，便于用户快速对多个仪器进行参数设置，以便于用户快速获取实验数据，大大提高了用户的实验效率。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及量子计算的，尤其是涉及一种半导体芯片测控装置、方法及量子计算机。

技术介绍

1、量子计算机是一类遵循量子力学规律进行高速数学和逻辑运算、存储及处理量子信息的物理装置。量子计算机有诸多发展方向，例如：超导、半导、离子井等，其中半导体量子计算机是指以门控半导体量子点实现量子比特编码为物理基础所形成的量子计算物理体系。

2、半导体量子计算机中包含测控系统，测控系统用于提供半导体量子芯片运行所需精密信号的生成、采集、控制与处理，测控系统中的测控硬件仍以商用仪器为主，在进行实验时，需要通过多种商用仪器的联合使用才能对半导体量子计算机进行测控，从而完成实验。

3、针对上述中的相关技术，专利技术人认为半导体量子计算机的测控需要依次去调试多种商用仪器，导致操作过程比较复杂，不便于人员对半导体量子计算机进行使用。

技术实现思路

1、为了改善半导体量子计算机的测控需要依次去调试多种商用仪器，导致操作过程比较复杂，不便于人员对半导体量子计算机进行使用的问题，本申请提供一种基于量子计算机的半导体芯片本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种半导体芯片测控装置，其特征在于，所述装置包括：

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述控制模块(2)包括：

3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述数据处理单元(21)包括信息层(211)、数据层(214)、框架层(213)以及实验库(212)；

4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述框架层(213)包括芯片参数确定块(2133)、量子比特参数确定块(2131)、数据分析块(2135)、实验配置块(2132)和执行块(2134)；

5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述控制单元(22)包括通讯层(221...

【技术特征摘要】

1.一种半导体芯片测控装置，其特征在于，所述装置包括：

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述控制模块(2)包括：

3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述数据处理单元(21)包括信息层(211)、数据层(214)、框架层(213)以及实验库(212)；

4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述框架层(213)包括芯片参数确定块(2133)、量子比特参数确定块(2131)、数据分析块(2135)、实验配置块(2132)和执行块(2134)；

5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述控制单元(22)包括通讯层(221)、仪器层(222)、控制层(224)以及运行层(223)；

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述通讯层(221)包括：

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述通讯层(221)还包括：

8.根据权利要求6...

【专利技术属性】
技术研发人员：请求不公布姓名，请求不公布姓名，请求不公布姓名，请求不公布姓名，
申请(专利权)人：本源量子计算科技合肥股份有限公司，
类型：发明
国别省市：