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本发明公开了一种NBTI效应作用下的数字集成电路时序分析方法和装置，包括针对数字电路每个种类的单元，利用预设数量个针对单元单输入端的信号概率采样值确定输入信号概率组合并在各输入信号概率组合下建立老化单元库；针对每个种类单元建立的老化单元库中...
该专利属于西安电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安电子科技大学授权不得商用。

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