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本发明涉及芯片预设功能验证技术领域，公开了一种芯片设计用预设功能验证方法及系统，包括：功能验证模块，用于对被测芯片的各个功能单元进行功能验证，并获取各个功能单元的功能运行状态；时序验证模块，基于功能验证的结果对所述被测芯片的时序行为进行时序...
该专利属于雷麟半导体科技（苏州）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过雷麟半导体科技（苏州）有限公司授权不得商用。

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