一种芯片设计用预设功能验证方法及系统技术方案

本发明专利技术涉及芯片预设功能验证技术领域，公开了一种芯片设计用预设功能验证方法及系统，包括：功能验证模块，用于对被测芯片的各个功能单元进行功能验证，并获取各个功能单元的功能运行状态；时序验证模块，基于功能验证的结果对所述被测芯片的时序行为进行时序验证，并获取所述被测芯片的时序行为；物理验证模块，基于功能验证和时序验证的结果对所述被测芯片的物理布局和连接进行验证，并获取所述被测芯片的物理布局和连接状态；分析模块，用于根据所述功能运行状态、时序行为和物理布局和连接状态对所述被测芯片的预设功能进行预警分析。通过综合运用功能验证、时序验证和物理验证模块，能够系统地验证芯片设计的正确性、可靠性和性能。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及芯片预设功能验证，具体涉及一种芯片设计用预设功能验证方法及系统。

技术介绍

1、随着电子设备的普及和功能的多样化，芯片作为电子设备的核心组件，其设计质量和可靠性变得至关重要。因此，对芯片设计的预设功能进行验证成为了芯片设计流程中不可或缺的一环。

2、随着芯片设计规模的不断扩大，传统的验证方法已经无法满足对设计质量和可靠性的要求。传统的验证方法往往依赖于人工检查和简单的仿真测试，这种方法不仅效率低下，而且容易遗漏问题。因此，需要采用更加高效、准确的验证方法，以确保芯片设计的正确性。

技术实现思路

1、本专利技术的目的在于提供一种芯片设计用预设功能验证方法及系统，用以解决
技术介绍
中提到的问题。

2、本专利技术的目的可以通过以下技术方案实现：

3、一种芯片设计用预设功能验证系统，包括：

4、功能验证模块，用于对被测芯片的各个功能单元进行功能验证，并获取各个功能单元的功能运行状态；

5、时序验证模块，基于功能验证的结果对所述被测芯片的时序行为进本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种芯片设计用预设功能验证系统，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的芯片设计用预设功能验证系统，其特征在于，对所述被测芯片的各个功能单元进行功能验证，并获取各个功能单元的功能运行状态的过程包括：所述功能验证模块包括功能监控电路单元和可调电路单元，所述可调电路单元包括多组功能电路结构，所述功能监控电路单元通过所述可调电路单元依次获取所述被测芯片在各个功能电路结构下的功能运行状态。

3.根据权利要求2所述的芯片设计用预设功能验证系统，其特征在于，根据所述功能运行状态对所述被测芯片的预设功能进行预警分析的过程包括：

4.根据权利要求3所述的芯片设...

【技术特征摘要】

1.一种芯片设计用预设功能验证系统，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的芯片设计用预设功能验证系统，其特征在于，对所述被测芯片的各个功能单元进行功能验证，并获取各个功能单元的功能运行状态的过程包括：所述功能验证模块包括功能监控电路单元和可调电路单元，所述可调电路单元包括多组功能电路结构，所述功能监控电路单元通过所述可调电路单元依次获取所述被测芯片在各个功能电路结构下的功能运行状态。

3.根据权利要求2所述的芯片设计用预设功能验证系统，其特征在于，根据所述功能运行状态对所述被测芯片的预设功能进行预警分析的过程包括：

4.根据权利要求3所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘钢，曾剑敏，
申请(专利权)人：雷麟半导体科技苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：