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本发明提供一种芯片测试装置，所述测试装置包括：第一矢量网络分析仪；第二矢量网络分析仪；信号源；第一开关模组，所述第一开关模组的第一侧与所述第一矢量网络分析仪、所述信号源、所述第二矢量网络分析仪连接；信号处理装置，所述信号处理装置与所述第一开...
该专利属于上海知白智能科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海知白智能科技有限公司授权不得商用。

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