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本申请的实施例提供了一种半导体元件测试装置，涉及半导体测试领域。该半导体元件测试装置用于放置半导体元件的测试座、与测试座配合的主板及制冷组件，主板具有相对的第一表面和第二表面，半导体元件具有引脚，引脚与主板的第一表面接触，制冷组件具有制冷工...
该专利属于杭州长川科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州长川科技股份有限公司授权不得商用。

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