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本发明涉及用于绝缘元件（２）的局部放电试验的方法，其中至少一个Ｘ射线脉冲（７；１３；１４）施加到绝缘元件（２），ＡＣ电压（１２）施加到绝缘元件（２）并且由至少一个Ｘ射线脉冲（７；１３；１４）诱发的局部放电被测量，其中该至少一个Ｘ射线脉冲（７...
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