用于绝缘元件的局部放电试验的方法和系统技术方案

本发明专利技术涉及用于绝缘元件（２）的局部放电试验的方法，其中至少一个Ｘ射线脉冲（７；１３；１４）施加到绝缘元件（２），ＡＣ电压（１２）施加到绝缘元件（２）并且由至少一个Ｘ射线脉冲（７；１３；１４）诱发的局部放电被测量，其中该至少一个Ｘ射线脉冲（７；１３；１４）的剂量率至少是１０↑［－２］Ｇｒａｙ／ｓ。本发明专利技术还涉及用根据本发明专利技术的方法的用于绝缘元件（２）的局部放电试验的系统（１；１５），其包括用于产生至少一个Ｘ射线脉冲的闪光Ｘ射线源（６）、ＡＣ电压源（５）、电压传感器（９）、局部放电传感器（８）和用于评估所测量的局部放电的局部放电探测装置（１０）。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及如权利要求1的开头所述的用于绝缘元件的局部方文电 试验的方法并且涉及如权利要求11的开头所述的用于绝缘元件的局 部放电试验的系统。绝缘元件可例如由固体电介质材料(例如填有料的环氧树脂(filledepoxy resin)，但不应限制于是固体)构成。
技术介绍
绝缘元件通常用于高压电气设备，例如电容器、变压器或开关设 备屏障等。然而，绝缘元件的电介质可以显示出高电场强度的区域， 其可导致特征在于它们不完全桥接电极的局部放电。局部》丈电非常频 繁地例如在例如固体绝缘元件内的空洞或裂缝或液体绝缘元件内的 气泡等的异质体内开始。为了描述的简单性，异质体在以下指空洞。 空洞典型地是充气的。如果横跨空洞的电压应力超过空洞内气体的起 始放电电压，气体电离并且局部放电开始在空洞内发生。局部放电接 着将引起绝缘元件的材料的逐渐退化，其最终可导致绝缘元件的电击 穿。为了避免在电场中的退化和电击穿以及为了控制绝缘元件的品 质，绝缘元件通常在离开工厂之前用局部放电试验进行空洞试验。这 样的已知局部放电试验典型地由与局部放电测量结合的持续大约一 分钟的有限持续时间的高AC过电压的施加组成(在本文档来自技高网...

【技术保护点】
用于绝缘元件（２）的局部放电试验的方法，包括下列步骤：　ａ）施加ＡＣ电压（１２）到所述绝缘元件（２），　ｂ）施加至少一个Ｘ射线脉冲（７；１３；１４；１８）到所述绝缘元件（２），　ｃ）测量由所述至少一个Ｘ射线脉冲（７；１３； １４）诱发的局部放电，　其特征在于在所述绝缘体内的所述至少一个Ｘ射线脉冲（７；１３；１４）的剂量率是至少１０－２Ｇｒａｙ／ｓ。

【技术特征摘要】
EP 2008-8-21 08162742.41.用于绝缘元件(2)的局部放电试验的方法，包括下列步骤a)施加AC电压(12)到所述绝缘元件(2)，b)施加至少一个X射线脉冲(7；13；14；18)到所述绝缘元件(2)，c)测量由所述至少一个X射线脉冲(7；13；14)诱发的局部放电，其特征在于在所述绝缘体内的所述至少一个X射线脉冲(7；13；14)的剂量率是至少10-2Gray/s。2. 如权利要求1所述的方法，其中在所述绝缘体内的所述至少 一个X射线脉冲(7; 13; 14; 18)的剂量率基本上是100Gray/s。3. 如权利要求1或2所述的方法，其中所述至少一个X射线脉 沖的持续时间对应于在充满一种或多种气体的空洞内的自由电子和 离子的复合时间。4. 如权利要求3所述的方法，其中所述至少一个X射线脉冲的 持续时间少于lms，特别地为100ns。5. 如权利要求1-4中任一项所述的方法，其中所述至少一个X 射线脉冲(7)的长度基本上对应于局部放电的寿命。6. 如权利要求1-5中任一项所述的方法，其中由所述至少一个X 射线脉冲(7; 13; 14)诱发的局部放电在所述一个或多个X射线脉 沖(7; 13; 14)的施加已经结束后测量。7. 如权利要求1-6中任一项所述的方法，其中所述至少一个X 射线脉冲(7; 14)基本上在施加的AC电压(12)的预先限定的模量 处施力口。8. 如权利要求1-6中任...

【专利技术属性】
技术研发人员：H富尔曼，A克里夫达，
申请(专利权)人：ABB研究有限公司，
类型：发明
国别省市：CH[]