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缺陷检测方法、装置、设备、系统及存储介质制造方法及图纸
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文档序号:41330461
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本申请提供一种缺陷检测方法、装置、设备、系统及存储介质,涉及图像处理领域。该方法包括:计算设备在对待检测器件进行缺陷检测时,将参考图像的图像风格迁移至待检测器件的图像,使图像风格迁移获得的风格迁移图像与参考图像具有统一的图像风格,再基于风格...
该专利属于华为技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过华为技术有限公司授权不得商用。
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