温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本申请提出了一种温度控制装置、芯片测试设备及温度控制方法,温度控制装置包括承载台和温控模块,承载台设有中空腔体;温控模块包括温控组件和进气组件,温控组件于进气组件连接,进气组件上设有进气通道,进气通道的一端用于连通气源,进气通道的另一端与中...该专利属于矽电半导体设备(深圳)股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过矽电半导体设备(深圳)股份有限公司授权不得商用。
温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本申请提出了一种温度控制装置、芯片测试设备及温度控制方法,温度控制装置包括承载台和温控模块,承载台设有中空腔体;温控模块包括温控组件和进气组件,温控组件于进气组件连接,进气组件上设有进气通道,进气通道的一端用于连通气源,进气通道的另一端与中...