下载温度控制装置、芯片测试设备及温度控制方法的技术资料

文档序号:41326837

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本申请提出了一种温度控制装置、芯片测试设备及温度控制方法,温度控制装置包括承载台和温控模块,承载台设有中空腔体;温控模块包括温控组件和进气组件,温控组件于进气组件连接,进气组件上设有进气通道,进气通道的一端用于连通气源,进气通道的另一端与中...
该专利属于矽电半导体设备(深圳)股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过矽电半导体设备(深圳)股份有限公司授权不得商用。

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