温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明提供了延时电路及其调整测试方法、自动化测试系统和芯片测试控制方法，延时电路包括：多个信号生成寄存器和包括依次电连接的多级延时单元的延时链，每级延时单元通过信号接收端耦接于对应的信号生成寄存器的信号输出端，每级延时单元与对应的信号生成寄...
该专利属于上海精积微半导体技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海精积微半导体技术有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。