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本发明涉及一种液体阴极辉光放电光谱邻近带峰引起基线漂移的干扰校正方法，属于原子光谱金属元素分析技术领域。采用标准溶液配制引起干扰的元素的一组标准系列，预先测量该组干扰带状谱的峰高值以及对应的待测元素波长处峰高的强度值的变化量，建立干扰带状谱...该专利属于北京市科学技术研究院分析测试研究所（北京市理化分析测试中心）所有，仅供学习研究参考，未经过北京市科学技术研究院分析测试研究所（北京市理化分析测试中心）授权不得商用。