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本发明涉及一种多模组化的芯片测试方法及系统，属于芯片测试技术领域，该方法包括：对多个待测芯片分别进行初步测试和二次测试，并进行顺序位标记；获取标记的顺序位大于0的待测芯片在电平转换过程的测试数据；将标记的顺序位大于0的待测芯片在电平转换过程...
该专利属于真贺科技（江苏）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过真贺科技（江苏）有限公司授权不得商用。

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