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本发明提供一种适用于纳米材料的透射电镜样品制备方法，通过将待检测样品转载在二维材料上之后，一同负载在微栅上，借助二维材料的支撑作用，使得能够有效维持待检测样品的原始形貌，扩大了可表征材料的范围，能够对1nm左右纳米材料高精度表征。二维材料采...
该专利属于浙江大学所有，仅供学习研究参考，未经过浙江大学授权不得商用。

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