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本发明的目的在于提供一种基于准光学谐振腔的金属表面电阻率的测试方法，属于微波、毫米波材料电磁参数测试技术领域。该方法通过测量双球腔的空腔品质因数、待测样品表面和左侧准光腔球面组成的平凹腔的品质因数、以及待测样品表面和右侧准光腔球面组成的平凹...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

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