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本发明提供的芯片单元性能随工艺角分布预测方法、系统、终端及介质，具体涉及芯片设计技术领域，方案包括：构建芯片单元的沟道长度与芯片单元的目标性能之间的关系，获得目标函数；将沟道长度映射到芯片单元的工艺角上，获得沟道长度对应的工艺角；基于目标函...
该专利属于珠海凌烟阁芯片科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过珠海凌烟阁芯片科技有限公司授权不得商用。

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