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本发明公开一种便于进行电致发光检测的Micro‑LED芯片及制备方法，通过在Micro‑LED芯片的正负电极之间设置天线结构，在外部磁场激发下产生感应电动势，点亮Micro‑LED芯片进行电致发光。完成Micro‑LED芯片检测后，天线结构...
该专利属于厦门大学所有，仅供学习研究参考，未经过厦门大学授权不得商用。

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