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本发明提供了一种硅光子陀螺用硅光芯片特征参数测试装置与方法，该特征参数测试装置采用电控光开关控制待测硅光芯片的输出尾纤光路选通，采用模拟开关控制测试项目的选通；采用测试及控制模块控制电控光开关、模拟开关的通断以及SLD光源工作，并通过接收强...
该专利属于北京自动化控制设备研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京自动化控制设备研究所授权不得商用。

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