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一种半导体结构及其制备方法技术
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文档序号:41285711
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本发明公开了一种半导体结构及其制备方法,该半导体结构包括衬底,衬底表面具有多个第一凹槽;第一温度补偿层,位于第一凹槽内,且覆盖第一凹槽的底部和侧部;压电层,压电层设于衬底设置第一凹槽的一侧上;以及位于压电层上的叉指换能器。本发明公开的半导体...
该专利属于苏州晶湛半导体有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过苏州晶湛半导体有限公司授权不得商用。
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