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本申请涉及离子阱质谱仪技术领域，特别涉及一种离子阱质谱仪质量精度校准方法、装置、电子设备及介质，其中，方法包括：获取质荷比参考样品；将质荷比参考样品输入标定完成的离子阱质谱仪，在不同扫描频率和/或不同电源幅值情况下采集标定完成的离子阱质谱仪...
该专利属于清华大学所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学授权不得商用。

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