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基于机会理论的智能脱扣器中电子电路的寿命预测方法技术
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文档序号:41283138
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本发明公开了一种基于机会理论的智能脱扣器中电子电路的寿命预测方法,首先综合考虑了每个模块的功能、性能,然后对性能进行重要度评估,构建备选性能参数集合及性能参数阈值,再根据备选性能参数集合,结合高温加速退化试验,得到表征电子电路退化的关键性能...
该专利属于河北工业大学所有,仅供学习研究参考,未经过河北工业大学授权不得商用。
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