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本发明提供了一种提高质谱性能的分析装置和方法，所述提高质谱性能的分析装置包括离子漏斗、进样锥和第一真空腔，所述离子漏斗和进样锥设置在所述第一真空腔内；所述离子漏斗的中心轴线和进样锥的中心轴线间的距离不为零，所述离子漏斗和进样锥满足：0.5·...
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