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本技术公开了一种光谱仪测样杆。本技术通过以上设计，该测样杆上的检测压头可在测样杆上进行上下左右的调节，并且不会与被测样品发生碰撞，也不会直接接触到检测台，可对检测压头进行一定的保护，延长检测压头的使用寿命，在使用过程中检测压头的位置调节方便...
该专利属于深圳市策谱科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市策谱科技有限公司授权不得商用。

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