【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种光谱仪的,尤其是涉及一种光谱仪测样杆。
技术介绍
1、光谱仪是将成分复杂的光分解成光谱线的仪器,使用光谱仪可测量物体表面的反射光线从而得到被测物体的性质,通过光谱仪对光信息的抓取,使用照相底片显现出来,或者使用电脑自动显示数值仪器显示和分析,可以测得该物品中含有的元素,使用光谱仪的测量技术被广泛使用在空气污染、水污染和金属工业等各种检测中,在金属检测过程中检测杆上的检测压头放置在被测样品上对样品进行检测。
2、基于对金属样品的检测,目前出现了一种光谱仪,该光谱仪检测位置处设置的检测杆需要使用人工操作,并且在操作过程中检测压头容易从检测杆中快速滑移至检测面,会造成检测压头的损坏,从而影响检测结果,并且减少仪器使用寿命。
技术实现思路
1、为了解决上述
技术介绍
中提出的技术缺陷,本技术的目的是提供一种光谱仪测样杆,该测样杆操作方便,并且可快速找准测样位置,不会对测样压头造成损坏,可提高使用寿命。
2、本技术采用如下技术方案:一种光谱仪测样杆,包括测样杆本体,
...【技术保护点】
1.一种光谱仪测样杆,包括测样台和测样杆本体(1),其特征在于:所述测样杆本体(1)包括安装架(2)和安装在安装架(2)上的检测压头(3),所述检测压头(3)滑动安装在安装架(2)上;
2.根据权利要求1所述的一种光谱仪测样杆,其特征在于:所述支撑杆(4)的固定杆(5)滑移位置设有限位件(9),所述限位件(9)固定对称安装在支撑杆(4)上用于阻挡固定杆(5)。
3.根据权利要求2所述的一种光谱仪测样杆,其特征在于:所述安装架(2)对应于检测台(6)样品检测位置安装,所述安装架(2)安装在检测位置两端,所述固定架于样品检测位置上方设置。
【技术特征摘要】
1.一种光谱仪测样杆,包括测样台和测样杆本体(1),其特征在于:所述测样杆本体(1)包括安装架(2)和安装在安装架(2)上的检测压头(3),所述检测压头(3)滑动安装在安装架(2)上;
2.根据权利要求1所述的一种光谱仪测样杆,其特征在于:所述支撑杆(4)的固定杆(5)...
【专利技术属性】
技术研发人员:杨应军,吴利年,
申请(专利权)人:深圳市策谱科技有限公司,
类型:新型
国别省市:
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