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本发明涉及一种配置存储器错误检测及坏块替换方法，包括以下步骤：S1、启动检测，检测状态机运转；S2、阵列不同故障检测手法数据写入；S3、不同测试手法读返回数据与原写入数据比对，判断阵列块坏点；S4、阵列读出是否与写入匹配；S5、错误地址数量...
该专利属于中国电子科技集团公司第五十八研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第五十八研究所授权不得商用。

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