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本发明属于应力测量技术领域，公开了一种FPGA电路老化应力的系统级测量方法及系统对FPGA设计进行布局布线后仿真，生成VCD文件；对VCD文件进行分析，得到信号翻转率和占空比；将得到的信号数据映射到FPGA内部，得到FPGA电路的老化情况。...
该专利属于电子科技大学长三角研究院（湖州）所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学长三角研究院（湖州）授权不得商用。

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