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本发明的质量分析装置以及分析条件的设定方法能够提高目标离子的检测灵敏度。ICP‑MS包括控制装置、设在等离子体的光轴上的碰撞池及第一电极与设在检测轴上的第二电极、质量分离装置及检测器。控制装置对于施加至第一电极及第二电极的各电极的移轴电压，...
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