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本发明涉及一种嵌入式Flash内建自测试及故障扇区修复方法，修复方法基于嵌入式Flash的SoC集成电路进行故障扇区地址检测和故障扇区替换，其中嵌入式Flash具有内建自测试电路结构，能够检测故障扇区并通过冗余扇区替换故障扇区，且嵌入式Fl...
该专利属于中科芯集成电路有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中科芯集成电路有限公司授权不得商用。

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