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本公开提供了一种芯片调试方法、装置及介质，可以应用于计算机领域和芯片调试领域。该芯片调试方法应用于调试控制端，包括：根据预设调试信息，构建用于调试被调试端中目标芯片的调试命令；根据被调试端的接口状态检测结果，确定用于接收调试命令的目标接口；...
该专利属于同方威视技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过同方威视技术股份有限公司授权不得商用。

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