【技术实现步骤摘要】
本公开涉及计算机领域和芯片程序调试领域，具体地涉及一种芯片调试方法、装置、设备、介质和程序产品。
技术介绍
1、随着科技的快速发展，为满足智能控制设备的集成化需求，近年来越来越多的电子设备采用嵌入mcu(micro control unit，微控制单元)的芯片，或soc芯片(system onchip，系统级芯片)等集成芯片来实现相关的设备执行功能。由于该类集成芯片具有可编程的特点，可以提升芯片应用于不同应用场景的适应性，扩大芯片的应用范围。
2、但是在实际应用过程中，常面临芯片的调试或升级的需求，而芯片的调试工作通常依赖于相关软件产品，且需要预留接口来完成芯片调试工作，时效性较差，且难以满足实际需求。
技术实现思路
1、鉴于上述问题，本公开提供了一种芯片调试方法、装置、设备、介质和程序产品。
2、根据本公开的第一个方面，提供了一种芯片调试方法，应用于调试控制端，包括：
3、根据预设调试信息，构建用于调试被调试端中目标芯片的调试命令；
4、根...
【技术保护点】
1.一种芯片调试方法，应用于调试控制端，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述被调试端包括多个接口；
3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述预设调试信息包括调试写入地址和调试写入数据长度；
4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述预设调试信息包括调试指令标识和调试指令参数；
5.根据权利要求4所述的方法，其中，所述调试指令标识包括调试读取指令标识，所述调试指令参数包括调试读取数据地址与调试读取数据参数；
6.根据权利要求1所述的方法，其中，在向所述目标接口发送所述调试命令请求之前，所述芯片调试方法
【技术特征摘要】
1.一种芯片调试方法，应用于调试控制端，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述被调试端包括多个接口；
3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述预设调试信息包括调试写入地址和调试写入数据长度；
4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述预设调试信息包括调试指令标识和调试指令参数；
5.根据权利要求4所述的方法，其中，所述调试指令标识包括调试读取指令标识，所述调试指令参数包括调试读取数据地址与调试读取数据参数；
6.根据权利要求1所述的方法，其中，在向所述目标接口发送所述调试命令请求之前，所述芯片调试方法还包括：
7.根据权利要求1至6中任意一项所述的方法，还包括：
8.一种芯片调试方法，应用于被调试端，所述被调试端安装有待调试的目标芯片，包括：
9.根据权利要求8所述的方法，其中，所述目标接口状态检测结果表征所述接口处于空闲状态。
10.根据权利要求8所述的方法，其中，所述预设调试信息包括调试写入地址和调试写入数据长度，所述调试...
【专利技术属性】
技术研发人员：张丽，陈志强，李元景，黄清萍，陈雪松，冯博，李波，
申请(专利权)人：同方威视技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。