温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本技术提供了一种存储芯片测试用的测试载具，包括：基座；测试板，安装在所述基座的一平面，所述测试板上具有若干用于放置且连接待测试芯片的测试夹具，以及将若干所述测试夹具连接的测试电路；连接件，安装在所述基座上与所述测试板相对的一侧，所述连接件一...
该专利属于广东长兴半导体科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过广东长兴半导体科技有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。