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本发明公开了一种背照式ＣＣＤ阵列光谱仪标准具效应的校正方法。该方法包括测量标准具效应光谱和待测物质光谱，然后根据标准具效应光谱和待测物质光谱的特征计算补偿光谱，最后将补偿光谱从待测物质光谱扣除。本发明从光谱软处理的角度对光谱进行校正，在不降...
该专利属于浙江大学所有，仅供学习研究参考，未经过浙江大学授权不得商用。

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