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本技术公开了一种可实现CIS探针卡匀光调节的装置包括：PCB板，其上形成有若干沉头孔，每个所述沉头孔内均安装有检测镜头和设于检测镜头上的匀光片；光圈架，被限制在所述PCB板上，所述光圈架上具有光线透过的调节孔，所述调节孔正对于所述匀光片，所...
该专利属于苏州矽利康测试系统有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州矽利康测试系统有限公司授权不得商用。

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