一种可实现CIS探针卡匀光调节的装置制造方法及图纸

技术编号:41163126 阅读:2 留言:0更新日期:2024-04-30 18:26
本技术公开了一种可实现CIS探针卡匀光调节的装置包括:PCB板,其上形成有若干沉头孔,每个所述沉头孔内均安装有检测镜头和设于检测镜头上的匀光片;光圈架,被限制在所述PCB板上,所述光圈架上具有光线透过的调节孔,所述调节孔正对于所述匀光片,所述调节孔用以控制透过其内的进光量;本技术可解决传统的CIS探针对光特性(光强度、光色温、光色域)的管控是在光源下方放置一整块滤光片,对光特性进行整体过滤处理,其效果不明显,只是起到了滤光作用,而没有针对性对强、弱区域进行调控,光特性不均衡现象依旧存在的问题。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及cis探针卡,具体涉及一种可实现cis探针卡匀光调节的装置。


技术介绍

1、cis探针上的光源灯型号是固定型号,光源外形和其出光面域相对固定,由于光源内部发光灯珠分布的原因,其在光照面域内光特性(光强度、光色温、光色域)有差异,存在有些区域强,有些区域弱,且通过镜头照射在芯片感光区域上的光同样不均衡,进而影响芯片测试。

2、传统的cis探针对光特性(光强度、光色温、光色域)的管控是在光源下方放置一整块滤光片,对光特性进行整体过滤处理,其效果不明显,只是起到了滤光作用,而没有针对性对强、弱区域进行调控,光特性不均衡现象依旧存在。


技术实现思路

1、为克服上述缺点,本技术的目的在于提供一种可实现cis探针卡匀光调节的装置。

2、为了达到以上目的,本技术采用的技术方案包括:

3、pcb板,其上形成有若干沉头孔,每个所述沉头孔内均安装有检测镜头和设于检测镜头上的匀光片;

4、光圈架,被限制在所述pcb板上,所述光圈架上具有光线透过的调节孔,所述调节孔正对于所述匀光片,所述调节孔用以控制透过其内的进光量。

5、在上述可实现cis探针卡匀光调节的装置的优选技术方案中,所述调节孔内由上而下至少形成有两个直径逐级减小的阶梯层。

6、在上述可实现cis探针卡匀光调节的装置的优选技术方案中,所述pcb板上设置有补强板,所述补强板上开设有凹槽,所述光圈架被固定在所述凹槽内。

7、在上述可实现cis探针卡匀光调节的装置的优选技术方案中,所述补强板上设置有光源灯,所述光源灯能够垂直向所述调节孔发射垂直光线。

8、在上述可实现cis探针卡匀光调节的装置的优选技术方案中,所述光源灯通过垫块与所述补强板相连接。

9、在上述可实现cis探针卡匀光调节的装置的优选技术方案中,所述pcb板于所述沉头孔周圈形成有直径扩大部。

10、在上述可实现cis探针卡匀光调节的装置的优选技术方案中,所述检测镜头螺纹安装在所述沉头孔内。

11、在上述可实现cis探针卡匀光调节的装置的优选技术方案中,所述光圈架底端距离所述pcb板的距离为0.5-2mm。

12、本技术的有益效果是,本申请通过调整独立式匀光片的放置高度和位置,可以对光特性进行均匀平衡化调节,从而适配不同焦距的检测镜头。

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【技术保护点】

1.一种可实现CIS探针卡匀光调节的装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的可实现CIS探针卡匀光调节的装置,其特征在于:所述调节孔内由上而下至少形成有两个直径逐级减小的阶梯层。

3.根据权利要求1所述的可实现CIS探针卡匀光调节的装置,其特征在于:所述PCB板上设置有补强板,所述补强板上开设有凹槽,所述光圈架被固定在所述凹槽内。

4.根据权利要求3所述的可实现CIS探针卡匀光调节的装置,其特征在于:所述补强板上设置有光源灯,所述光源灯能够垂直向所述调节孔发射垂直光线。

5.根据权利要求4所述的可实现CIS探针卡匀光调节的装置,其特征在于:所述光源灯通过垫块与所述补强板相连接。

6.根据权利要求1所述的可实现CIS探针卡匀光调节的装置,其特征在于:所述PCB板于所述沉头孔周圈形成有直径扩大部。

7.根据权利要求1所述的可实现CIS探针卡匀光调节的装置,其特征在于:所述检测镜头螺纹安装在所述沉头孔内。

8.根据权利要求1所述的可实现CIS探针卡匀光调节的装置,其特征在于:所述光圈架底端距离所述PCB板的距离为0.5-2mm。

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【技术特征摘要】

1.一种可实现cis探针卡匀光调节的装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的可实现cis探针卡匀光调节的装置,其特征在于:所述调节孔内由上而下至少形成有两个直径逐级减小的阶梯层。

3.根据权利要求1所述的可实现cis探针卡匀光调节的装置,其特征在于:所述pcb板上设置有补强板,所述补强板上开设有凹槽,所述光圈架被固定在所述凹槽内。

4.根据权利要求3所述的可实现cis探针卡匀光调节的装置,其特征在于:所述补强板上设置有光源灯,所述光源灯能够垂直向所述调节孔发射垂直光...

【专利技术属性】
技术研发人员:陆德华
申请(专利权)人:苏州矽利康测试系统有限公司
类型:新型
国别省市:

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