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本发明公开了一种基于星图灰度分布特征的观星设备质量分类方法，包括：S1，星点图像数据采集；S2，星点图像噪声处理；S3，星点图像特征建模；S4，产品质量特征建模；S5，产品质量分类分析。对星点图像进行阈值去噪处理，依据去噪后星点图像的灰度分...
该专利属于上海精密计量测试研究所所有，仅供学习研究参考，未经过上海精密计量测试研究所授权不得商用。

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