下载CIS器件及其制备方法的技术资料

文档序号:41143101

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本申请提供一种CIS器件及其制备方法,其中制备方法包括:提供一衬底,衬底上形成有第一外延层和硬掩膜层;形成浅沟槽;在浅沟槽侧壁上形成衬垫氧化层;形成深沟槽;对当前结构进行预处理;对当前结构执行高温烘烤工艺;在深沟槽的底壁和剩余侧壁上形成缓冲...
该专利属于华虹半导体(无锡)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过华虹半导体(无锡)有限公司授权不得商用。

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