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一种反熔丝一次可编程存储器及其形成方法,其中形成方法包括:提供衬底,衬底包括选择管区和电容区;在选择管区内形成改性层;形成第一栅介质层和第二栅介质层,第一栅介质层位于改性层上,第二栅介质层位于电容区上,且第一栅介质层的厚度大于第二栅介质层的...该专利属于中芯国际集成电路制造(北京)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过中芯国际集成电路制造(北京)有限公司授权不得商用。
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一种反熔丝一次可编程存储器及其形成方法,其中形成方法包括:提供衬底,衬底包括选择管区和电容区;在选择管区内形成改性层;形成第一栅介质层和第二栅介质层,第一栅介质层位于改性层上,第二栅介质层位于电容区上,且第一栅介质层的厚度大于第二栅介质层的...