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本申请提供了一种基于磁环自升温的磁特性测量装置，所述测量装置加装在磁环上，用于对磁环分别进行自升温、去磁、磁特性测量，包括高频激励电路、低频去磁电路、磁特性测量电路。所述测量装置对磁环施加高频低磁密交流激励，由磁环产生涡流损耗自热升温；当热...
该专利属于中国矿业大学（北京）所有，仅供学习研究参考，未经过中国矿业大学（北京）授权不得商用。

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