一种基于磁环自升温的磁特性测量装置制造方法及图纸

技术编号:41136007 阅读:42 留言:0更新日期:2024-04-30 18:07
本申请提供了一种基于磁环自升温的磁特性测量装置,所述测量装置加装在磁环上,用于对磁环分别进行自升温、去磁、磁特性测量,包括高频激励电路、低频去磁电路、磁特性测量电路。所述测量装置对磁环施加高频低磁密交流激励,由磁环产生涡流损耗自热升温;当热电阻传感器检测到磁环温度超过测试温度一定温度时,由温度控制器控制接触器断开高频激励电路,导通低频去磁电路对磁环进行去磁处理;在磁环温度降低到测试温度时,关断低频去磁电路,并结合环形样件测试法,对磁环进行给定温度下的磁特性测量。本申请能够精准控制磁环的升温时间,在磁环的指定工作温度下测量磁特性,提高磁特性测量的准确度。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及软磁材料的磁特性测量,尤其是涉及一种基于磁环自升温的磁特性测量装置


技术介绍

1、以硅钢、铁氧体、非晶、纳米晶为代表的软磁材料广泛应用在变压器和电机铁心中,其磁特性的精准测试对于变压器、电机的整体优化和外围绝缘装置和散热装置的设计具有重要意义。

2、目前,国内外研究人员针对其一二维磁特性提出了包括环样测试法、单片测试法、爱泼斯坦方圈法等多种经典测量方法,考虑到变压器、电机等铁心软磁材料在实际运行时会达到一定工作温度,而传统方法基于实验室常温环境下测量,因此对不同温度下软磁材料的磁特性测量成为当前研究热点。

3、现阶段,针对软磁材料在不同温度下的磁特性测量多采用环样测试法结合恒温箱进行测试,通过将磁环置于恒温箱中加热到测试温度,引出导线进行测量。但是,通过恒温箱对磁环进行加热,一是无法准确预估加热时间,若加热时间过短,则存在磁环表面温度和内部温度不均衡的问题,若加热时间过长,则容易导致磁环缠绕导线老化;二是磁特性需要在特定的工作温度下测量,而恒温箱改变的是磁环的环境温度,并不是工作温度。以上问题会降低磁特性测量的准确度。<本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于磁环自升温的磁特性测量装置,其特征在于,所述测量装置加装在磁环上,用于对所述磁环分别进行自升温、去磁、磁特性测量,包括高频激励电路、低频去磁电路、磁特性测量电路;

2.根据权利要求1所述的基于磁环自升温的磁特性测量装置,其特征在于,所述绕组A、所述绕组B、所述绕组C并行环绕在所述磁环上。

3.根据权利要求1所述的基于磁环自升温的磁特性测量装置,其特征在于,环绕所述磁环,在所述绕组A、所述绕组B、所述绕组C上包裹保温材料。

4.根据权利要求1所述的基于磁环自升温的磁特性测量装置,其特征在于,在所述磁环的第一内径位置点和第一外径位置点分别安装所...

【技术特征摘要】

1.一种基于磁环自升温的磁特性测量装置,其特征在于,所述测量装置加装在磁环上,用于对所述磁环分别进行自升温、去磁、磁特性测量,包括高频激励电路、低频去磁电路、磁特性测量电路;

2.根据权利要求1所述的基于磁环自升温的磁特性测量装置,其特征在于,所述绕组a、所述绕组b、所述绕组c并行环绕在所述磁环上。

3.根据权利要求1所述的基于磁环自升温的磁特性测量装置,其特征在于,环绕所述磁环,在所述绕组a、所述绕组b、所述绕组c上包裹保温材料。

4.根据权利要求1所述的基于磁环自升温的磁特性测量装置,其特征在于,在所述磁环的第一内径位置点和第一外径位置点分别安装所述热电阻传感器a1,所述第一内径位置点和所述第一外径位置点的连线经过所述磁环的圆心;在所述磁环的第二内径位置点和第二外径位置点分别安装所述热电阻传感器a2,所...

【专利技术属性】
技术研发人员:张鹏宁王宁李朋阳廖文杰张宏伟李博凡李伟
申请(专利权)人:中国矿业大学北京
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1