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本申请提供一种批量修调芯片配置寻求方法及装置，该方法包括：基于各芯片初始的偏移参数和增益参数判断各芯片是否符合标准；对不符合标准的芯片，依据零点和满度的码值范围依次对初始的偏移参数与增益参数进行粗调，得到第一偏移参数与第一增益参数，判断粗调...
该专利属于重庆金芯麦斯传感器技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过重庆金芯麦斯传感器技术有限公司授权不得商用。

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