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本申请提供一种基站工参的测量方法、装置、系统及存储介质。该方法包括：控制激光跟踪仪对室内n个标定点的位置进行测量，得到第一测量位置信息；控制激光跟踪仪对基站表面上的m个标定点的位置进行测量，得到第二测量位置信息；根据第一测量位置信息和n个标...
该专利属于中兴通讯股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中兴通讯股份有限公司授权不得商用。

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