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本发明提出一种晶圆针测控制方法、装置、设备及存储介质，涉及晶圆测试技术领域，晶圆针测控制方法的步骤包括：在检测到测试针板移动至预设缓冲点时，控制测试针板的实时移速下降至第一移速，预设缓冲点设置于测试针板的初始位置与晶圆扎针点之间；基于第一移...
该专利属于芯测通（深圳）半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过芯测通（深圳）半导体有限公司授权不得商用。

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